Company Blog About Inżynieria orientacji podłoża szafirowego zwiększa wydajność półprzewodników
Sapphire, krystaliczna forma tlenku alfa-aluminiowego znana jako Al2O3, stała się podstawowym podłożem dla W związku z tym, że nie ma żadnych ograniczeń w zakresie bezpieczeństwa, nie może być stosowany w przypadku urządzeń do produkcji optycznych, w tym półprzewodników i optoelektroniki ze względu na twardość, stabilność chemiczną i szeroki zakres. strukturę sześciokątną, jest jednak silnie anizotropowa, więc właściwości mechaniczne, termiczne i elektroniczne Dla inżynierów urządzeń różnice między płaszczyzną C, A i R Sapphire są kluczowe dla optymalizacji wydajności i kontroli wad.
Sapphire to sześciokątna forma tlenku aluminium, w której jony tlenu tworzą sześciokątną siatkę i aluminium Każdy jon aluminiowy otoczony jest przez sześć tlenu. W tym przypadku parametry siatki są około a = 4,76 angstromów i c = 12,99 angstromów. Symetria sześciokątna jest źródłem anizotropowego zachowania mechanicznego, termicznego i optycznego materiału.
W praktyce konsekwencją jest to, że płytka szafirowa nie jest jednolitą platformą we wszystkich kierunkach. Układ, stopnie powierzchni i środowisko wiązania różnią się w zależności od płaszczyzny, co wpływa na sposób, w jaki warstwy epitaksjalne W trakcie wzrostu, rozciąga się i rozluźnia.
| Samolot | Wskaźnik | Podstawowe zastosowanie | Kluczowa cecha |
|---|---|---|---|
| C-poziom | (0001) | Ogólna epitaxia GaN | Najwyższa symetria i płaska powierzchnia nadająca się do wzrostu pionowego ościenia |
| Płaszczyzna A | (11-20) | Niepolarny wzrost GaN | Zmniejszona biegunowość i tłumienie pól piezoelektrycznych w diodach LED |
| R-płaszczyzna | (1-102) | Epitazja półpolarna | Poprawa wydajności studni kwantowych i ekstrakcji światła |
Orientacja podłoża bezpośrednio wpływa na niezgodność siatki i gęstość zwichnięć w warstwie epitaksyalnej. GaN uprawiany na szafirze płaszczyzny C ma silne wbudowane pole ze względu na swoją polarną naturę. Substraty płaszczyzny R zamiast tego wykorzystują wzrost niepolarny lub półpolarny w celu zmniejszenia kwantowo ograniczonego efektu Starka, przesunięcie, które może poprawić efektywność świetlną diod LED i innych urządzeń optoelektronicznych.
Różnice w przewodności cieplnej w płaszczyźnie kryształowej mają również znaczenie dla zarządzania ciepłem i naprężenia powierzchniowego Inżynierowie oceniający podłoże muszą zatem rozważyć nie tylko Jakość, ale także sposób, w jaki ciepło przemieszcza się przez urządzenie i jak nagromadza się naprężenie w czasie.
Zalecenia te stają się coraz ważniejsze w miarę jak urządzenia osiągają większą moc i działają dłużej. czasy życia, gdzie niewielkie różnice w ścieżce termicznej i gęstości wad mogą mieć wpływ na niezawodność.
Wybór podłoża wymaga zrównoważonej oceny typu urządzenia, w tym diod LED, laserów lub mocy W celu uzyskania odpowiednich wyników należy zastosować metodę epitaksyalną, taką jak MOCVD, HVPE lub LPE, oraz ukierunkowane metody elektryczne i C-Plane Sapphire pozostaje w branży podstawą dla pionowej epitaxy.
W przypadku gdy celem jest optymalizacja wzrostu niepolarnego lub półpolarnego w celu zwiększenia wydajności, płaszczyzna A lub płaszczyzna R W przypadku konstrukcji o dużej mocy inżynierowie muszą również zweryfikować właściwości przewodzenia cieplnego wybranej płaszczyzny w stosunku do ścieżki usuwania ciepła urządzenia oraz połączyć tę analizę z oceną naprężenia powierzchniowego w celu długoterminowej stabilności termicznej.